安勤

ログアウトについて

ログアウトしますか？

戻る

ログアウト

ログインしてください

サービスセンターでeRMAの情報をご確認いただけます。

戻る

ログイン

見積チェックリスト

すべて選択

コンサルト

0

比較

データシート

近日公開

AIB-3576

Get a Quote

Comparison

データシート

Get a Quote

Comparison

データシート

仕様
FAQ

製品仕様

System Information

Processor

Rockchip RK3576
Quad-core Cortex-A72 and Quad-core Cortex-A53
System Memory

LPDDR4, 4GB (8GB~ 16GB optional)

Expansion

M.2

1x M.2 key-B connecter 1 x Nano SIM slot (push and pull)

Storage

eMMC

64GB（16~256G Optional）

Front I/O

DC Input Connector

DC 12~24V
Network

2x 100M/1000M Ethernet
HDMI

1 x HDMI®2.1 8K@60fps or 4K@120fps (output)
Audio

1 x 3.5mm Jacker/SPK connecter
COM Port

1x SPDIF
Antenna

2x (1*4G antenna and 1*WiFi antenna optional).
LED Indicator

2 x LAN LED
USB

1 x USB3.0 Type A
1 x USB2.0 Type A
1x USB 3.0 type C

Rear I/O

Digital I/O

GPIO 10pin 3.5v/5v

Display

Multiple Display

1 x HDMI®2.1 8K@60fps or 4K@120fps (output) 1 x LVDS (2x15 pin), 2.0mm; LCD Backlight Brightness 1 x 6pin (2.0mm)

Software Support

OS

Debian 12 & Andriod14

Mechanical & Environmental

Operating Temp.

0°C~50°C
Storage Temp.

-40~85°C
Operating Humidity

40℃ @ 95% Relative Humidity, Non-condensing
Dimension (W x L x H)

160mm×125.5mm×48mm
Vibration Test

Random Vibration Operation
1 Test PSD : 0.00454G²/Hz , 1.5 Grms
2 System condition : operation mode
3 Test frequency : 5~500 Hz
4 Test axis : X,Y and Z axis
5 Test time : 30 minutes per each axis
6 IEC60068-2-64 Test Fh
6 Storage : SSD
Sine Vibration test (Non-operation)
1 Test Acceleration : 2G
2 Test frequency : 5~500 Hz
3 Sweep：1 Oct/ per one minute. (logarithmic)
4 Test Axis : X,Y and Z axis
5 Test time :30 min. each axis
6 System condition : Non-Operating mode
7. Reference IEC 60068-2-6 Testing procedures
Package Vibration Test:
1 Test PSD : 0.026G²/Hz , 2.16 Grms
2 Test frequency : 5~500 Hz
3 Test axis : X,Y and Z axis
4 Test time : 30 minutes per each axis
5 IEC 60068-2-64 Test Fh
Shock Test

1. Wave form：Half Sine wave
2. Acceleration Rate：10g for operation mode
3. Duration Time：11ms
4. No. of Shock：Z axis 300 times
5. Test Axis: Z axis
6. Operation mode
7. Reference IEC 60068-2-27:1987 Testing procedures
Test Ea : Shock Test
Drop Test

Package drop test
Reference ISTA 2A, Method : IEC-60068-2-32 Test:Ed
Test Ea : Drop Test
1 Test phase : One corner, three edges, six faces
2 Test high : 96.5cm
3 Package weight : 5Kg
4 Test drawing
Mounting Kit

Din rail

Onboard I/O

EC Debug

1 x 4 pin 2.0mm
COM Port

2x RS232 4pin, 2.0mm
2x RS485 4pin, 2.0mm
USB

2x 4 pin, 2.0mm

結果がありません。

フィルターを再調整してください。

関連FAQ

更新日

カテゴリー

タイトル

詳細

ソフトウェアBIOS

Update BIOS on Windows OS

ソフトウェアドライバ

How to make Avalue Board support Wake On LAN (WOL) Function

How to use “Power ON after power failure function” to boot system without press Power button.

ソフトウェアインストール

How to make COM RS-232 Loopback test device

ソフトウェアOS

FBReseal will be appeared on each boot – how to disable FBWF to resolve this problem

1

2

比較に追加されました。

今すぐチェック！

My Avalue

私たちのメンバーシップに加入して、ヘルスケアから産業製造に至るまでのテーマを網羅したウェビナーにアクセスしましょう。

ログインウェビナー

Contact

ご不明な点がございましたら、お気軽にお問い合わせください。できるだけ早くご返信いたします。

お問い合わせ

検索ウェブサイト

キーワード

OK

Language

メニュー

製品情報

メニュー

ソリューション

購読

Welcome to subscribe to our e-newsletter. As long as enter your email, you can get first-hand latest news.

購読件名

戻る

購読

購読を停止しますか？

購読停止

If you decide to unsubscribe from the newsletter, please enter your email below. We will cancel all subscription topics.

購読停止件名

Press Release

E-letter

IR News

White Paper

メールアドレス

戻る

購読停止

購読しました

購読ありがとうございます！

OK

購読を中止しました

またの購読をお待ちしております。

OK

ログインする必要があります

このメールは会員様向けです。変更するにはログインする必要があります。

戻る

ログイン