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System Information

  • Processor

    Rockchip RK3576
    Quad-core Cortex-A72 and Quad-core Cortex-A53

  • System Memory

    LPDDR4, 4GB (8GB~ 16GB optional)

Expansion

  • M.2

    1x M.2 key-B connecter 1 x Nano SIM slot (push and pull)

Storage

  • eMMC

    64GB（16~256G Optional）

Front I/O

  • DC Input Connector

    DC 12~24V

  • Network

    2x 100M/1000M Ethernet

  • HDMI

    1 x HDMI®2.1 8K@60fps or 4K@120fps (output)

  • Audio

    1 x 3.5mm Jacker/SPK connecter

  • COM Port

    1x SPDIF

  • Antenna

    2x (1*4G antenna and 1*WiFi antenna optional).

  • LED Indicator

    2 x LAN LED

  • USB

    1 x USB3.0 Type A
    1 x USB2.0 Type A
    1x USB 3.0 type C

Rear I/O

  • Digital I/O

    GPIO 10pin 3.5v/5v

Display

  • Multiple Display

    1 x HDMI®2.1 8K@60fps or 4K@120fps (output) 1 x LVDS (2x15 pin), 2.0mm; LCD Backlight Brightness 1 x 6pin (2.0mm)

Software Support

  • OS

    Debian 12 & Andriod14

Mechanical & Environmental

  • Operating Temp.

    0°C~50°C

  • Storage Temp.

    -40~85°C

  • Operating Humidity

    40℃ @ 95% Relative Humidity, Non-condensing

  • Dimension (W x L x H)

    160mm×125.5mm×48mm

  • Vibration Test

    Random Vibration Operation
    1 Test PSD : 0.00454G²/Hz , 1.5 Grms
    2 System condition : operation mode
    3 Test frequency : 5~500 Hz
    4 Test axis : X,Y and Z axis
    5 Test time : 30 minutes per each axis
    6 IEC60068-2-64 Test Fh
    6 Storage : SSD
    Sine Vibration test (Non-operation)
    1 Test Acceleration : 2G
    2 Test frequency : 5~500 Hz
    3 Sweep：1 Oct/ per one minute. (logarithmic)
    4 Test Axis : X,Y and Z axis
    5 Test time :30 min. each axis
    6 System condition : Non-Operating mode
    7. Reference IEC 60068-2-6 Testing procedures
    Package Vibration Test:
    1 Test PSD : 0.026G²/Hz , 2.16 Grms
    2 Test frequency : 5~500 Hz
    3 Test axis : X,Y and Z axis
    4 Test time : 30 minutes per each axis
    5 IEC 60068-2-64 Test Fh

  • Shock Test

    1. Wave form：Half Sine wave
    2. Acceleration Rate：10g for operation mode
    3. Duration Time：11ms
    4. No. of Shock：Z axis 300 times
    5. Test Axis: Z axis
    6. Operation mode
    7. Reference IEC 60068-2-27:1987 Testing procedures
    Test Ea : Shock Test

  • Drop Test

    Package drop test
    Reference ISTA 2A, Method : IEC-60068-2-32 Test:Ed
    Test Ea : Drop Test
    1 Test phase : One corner, three edges, six faces
    2 Test high : 96.5cm
    3 Package weight : 5Kg
    4 Test drawing

  • Mounting Kit

    Din rail

Onboard I/O

  • EC Debug

    1 x 4 pin 2.0mm

  • COM Port

    2x RS232 4pin, 2.0mm
    2x RS485 4pin, 2.0mm

  • USB

    2x 4 pin, 2.0mm

沒有結果。

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